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    新聞中心

    蔡司三坐標測頭
    發布日期:2020-10-16 11:42:41

       ZEISS CONTURA包含各種測頭,因此可為各種應用和要求提供合適的測頭或測頭系統。利用MASS技術,可以高精度操作大量的蔡司測頭并在同一測量儀器上快速更換:無論是光學或接觸式,被動或主動式——這便是ZEISS CONTURA如何實現更大的靈活性。

      這種多測頭系統配備創新的光學測頭,可執行多種測量作業,包括檢測塑料、醫用植入物以及電池和柔性細銷等電機部件。

      光學式測頭

      該系統配備創新的ZEISS DotScan色階共聚焦白光測頭(也是CONTURA系列的一項新功能),甚至可以測量透明的厚涂層。

      此外, 成熟的VAST掃描技術可以在三坐標測量機上實現多種不同的形狀和位置公差選項。這樣,操作人員就無需在專門的系統上進行耗時的形狀測量,從而降低了檢測成本,縮短了交貨時間。而且,該系統現在還可以測量粗糙度,其按照同一測量序列的標準,將粗糙度測量功能完整地集成在三坐標測量機上,從而為手動測量粗糙度提供了高精度的替代方法。蔡司通過這種方式開創了中距離三坐標測量技術的未來,并將其提升到全新的高度。

      

     

      ZEISS CONTURA可以降低測量時間的同時保持可靠的精度。蔡司VAST navigator或蔡司VAST performance等功能與蔡司VAST測頭配合使用可確保這一點。飛行模式(Fly Mode)是該系列的另一項新功能。它使測頭能夠在從A到B的有效路徑上運行,從而縮短測量時間并保護機械部件。

      符合人體工程學

      小型測量室需要一個測量設備,以適應可用空間。CMM的優化高度和寬度,以及經過深思熟慮設計的人體工程學的特殊功能,可以讓用戶舒適地操作。

      有了HTG選項(寬溫度帶),更大的溫度范圍對蔡司CONTURA來說都不是挑戰。由于采用了浮動玻璃陶瓷量程,新型蔡司CONTURA可承受熱變化——因此可確保溫度穩定性和恒定的測量精度。

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